Système complet, composé de :
* Spectographe optique d'émission, OBLF QS N750
* Flores des rayons X dispersives en fonction de la longueur d'onde, Axios Panalytique Rapide
* Table d'alimentation du bras robotisé, ABB IRB 1600 - 6/1 .45
* Centre d'usinage, Fanuc T21iF
Le robot positionne l'échantillon dans la scie/fraiseuse, puis dans l'équipement d'analyse. Le système utilise simultanément la fluorescence des rayons X à dispersion de longueur d'onde pour les éléments principaux et un spectrographe d'émission optique pour les éléments traces de lumière. Le logiciel produit un résultat de mesure combiné basé sur les limites de détection et les plages d'étalonnage des deux appareils d'analyse
* Spectographe optique d'émission, OBLF QS N750
* Flores des rayons X dispersives en fonction de la longueur d'onde, Axios Panalytique Rapide
* Table d'alimentation du bras robotisé, ABB IRB 1600 - 6/1 .45
* Centre d'usinage, Fanuc T21iF
Le robot positionne l'échantillon dans la scie/fraiseuse, puis dans l'équipement d'analyse. Le système utilise simultanément la fluorescence des rayons X à dispersion de longueur d'onde pour les éléments principaux et un spectrographe d'émission optique pour les éléments traces de lumière. Le logiciel produit un résultat de mesure combiné basé sur les limites de détection et les plages d'étalonnage des deux appareils d'analyse
